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微觀形貌分析-掃描電鏡（SEM)
儀器型號：美國熱電Q45
項目介紹：掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。
樣品的要求
1. 粉末樣品:樣品量≥3mg(磁性樣品必須由承檢方制樣)。
2. 液體樣品:樣品量≥0.5ml。
3. 塊體樣品:長*寬*高≤50mm*50mm*15mm.
4. 細胞及細菌樣品:2.5%的戊二醛保存，樣品離心后能覆蓋1.5ml離心管底部。
5. 生物組織樣品:2.5%的戊二醛保存，取材大小1-2mm3(大于這個尺寸戊二醛固定效果會不好)。
